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2023-04-24 发布于四川
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多芯片检测系统.pdf

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本发明公开了多芯片检测系统，包括芯片换盘设备和芯片测试设备；所述芯片换盘设备包括换盘料盘运输轨道和换盘模组；所述换盘料盘运输轨道包括换盘轨道主架、料盘运输装置和料盘定位装置；所述换盘模组包括换盘运动架和换盘抓手；所述芯片测试设备包括测试料盘运输轨道、次品盘运输轨道、测试模组和次品芯片抓取模组；所述测试料盘运输轨道包括测试料盘轨道架、料盘运输装置和料盘定位装置；所述次品盘运输轨道包括次品盘轨道架、料盘运输装置和次品盘定位装置；所述测试模组包括测试主架和测试抓手；所述次品芯片抓取模组包括次品抓取运动

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113998457 A (43)申请公布日 2022.02.01 (21)申请号 202111071412.0 B65G 47/74 (2006.01)