一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法.pdfVIP

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2023-04-24 发布于北京
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一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法.pdf

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本发明涉及一种高精度相位调节与测量系统及方法，尤其是涉及一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法。包括采样时钟产生模块：基于赛林斯FPGA内高速收发器的相位调节模块生成采样时钟fs；相位计数器：由生成的采样时钟fs控制的计数器，计数器的值代表相位值；被测通道：用于测量被测时钟的相位；本发明采用赛林斯FPGA内高速收发器中的相位内插模块，匀速高分辨率地调节其输出时钟相位，等效产生晃动小的新时钟。相比于采用片内普通锁相环PLL，该时钟抖动小约5倍。该测量系统的分辨率可接近1皮秒，相位测量精度

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114019857 A (43)申请公布日 2022.02.08 (21)申请号 202111265419.6 (22)申请日 2021.10.28 (71)申请人华中师范大学地址