一种改进型的SMD晶振反分析及品质检测专用治具.pdfVIP

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2023-04-26 发布于北京
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一种改进型的SMD晶振反分析及品质检测专用治具.pdf

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本发明公开了一种改进型的SMD晶振反分析及品质检测专用治具；属于石英晶体振荡器这一技术领域；其技术要点在于：所述夹持构件包括：基材以及凸沿；所述基材上设置有限位孔、SMD卡槽；所述SMD卡槽用于嵌入待检测的SMD晶振；所述基材的上、下表面均为齐平；所述主杆构件包括：限位销，主杆构件本体；所述限位销的至少顶部部分采用耐磨材料制成，且限位销的高度低于圆形基材的厚度；所述凸沿为基材的边部朝向主杆构件形成的凸起。采用本申请的改进型的SMD晶振反分析及品质检测专用治具，能够有效的保证开盖的良品率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114074292 B (45)授权公告日 2022.06.28 (21)申请号 202111346488.X (56)对比文件 (22)申请日 2021.11.15