一种参数测试方法、装置、电子设备和存储介质.pdfVIP

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2023-04-26 发布于北京
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一种参数测试方法、装置、电子设备和存储介质.pdf

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本发明提供了一种参数测试方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：构建相互分离的参数测试软件、算法代码文件以及滤波代码文件；在参数测试软件启动后，加载算法代码文件，判断算法代码文件是否是初始化加载；若算法代码文件是初始化加载，算法代码文件根据预设滤波代码文件加载逻辑加载滤波代码文件，并在加载完滤波代码文件后，加载采样参数，通过算法代码文件对采样参数进行测试，得到测试结果；若算法代码文件不是初始化加载，则加载采样参数，通过算法代码文件对采样参数进行测试，得到测试结果，将测试结果输出至参数测试软件

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114077542 A (43)申请公布日 2022.02.22 (21)申请号 202111289609.1 (22)申请日 2021.11.02 (71)申请人武汉普赛斯电子技术有限公司