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2023-04-26 发布于北京
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一种芯片检测系统.pdf

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本发明公开了一种芯片检测系统，涉及芯片检测技术领域，解决了现有方案在电子芯片检测过程中存在的检测精度不高，检测效率低下的技术问题；本发明构建了标准的测试数据，测试数据中芯片标签以及对应的测试数据相关联，获取待测芯片的芯片标签和测试标签即可确定测试集，通过测试集对待测芯片完成检测；本发明能够提高芯片检测的精度，同时可与自动化生产线相结合，提高检测效率，降低成本；本发明可定制检测内容，根据芯片表单建立测试数据，通过智能终端获取待测芯片需要检测的内容，确定测试集之后完成对待测芯片的检测；提高了本发明的

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114076891 A (43)申请公布日 2022.02.22 (21)申请号 202111369566.8 (22)申请日 2021.11.18 (71)申请人中大检测（湖南）股份有限公司