一种电子元器件检测时防止金手指被划伤的方法.pdfVIP

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2023-04-26 发布于北京
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一种电子元器件检测时防止金手指被划伤的方法.pdf

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本发明属于电子元器件线路检测技术领域，公开了一种电子元器件检测时防止金手指被划伤的方法，包括以下步骤：S1：在主板印刷金手指的位置旁新增辅助测试块；S2：在主板和辅助测试块的线路上印刷金手指；S3：使用探针对辅助测试块的金手指进行测试；S4：将辅助测试块从主板上切除，解决了现有技术检测电子元器件时主板上金手指容易损坏且检测效率低的的问题。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114089159 A (43)申请公布日 2022.02.25 (21)申请号 202111371849.6 (22)申请日 2021.11.18 (71)申请人深圳达沃斯光电有限公司