一种SoC芯片检验方法、装置及相关设备.pdfVIP

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2023-05-04 发布于北京
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一种SoC芯片检验方法、装置及相关设备.pdf

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本申请公开了一种SoC芯片检验方法，包括当接收到验证指令时，根据所述验证指令从预设存储空间读取寄存器配置指令；其中，所述SoC芯片与硬件测试层连接，所述预设存储空间部署于所述硬件测试层；根据所述寄存器配置指令进行寄存器配置，并在寄存器配置完毕后启动所述SoC芯片中的各元件设备；获取各所述元件设备的运行结果，并根据各所述运行结果确定SoC芯片检验结果。应用本申请所提供的技术方案，可以实现系统级的SoC芯片的性能验证，保证芯片验证结果的准确性。本申请还公开了一种SoC芯片检验装置、设备及计算机可读存

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114218882 A (43)申请公布日 2022.03.22 (21)申请号 202111447838.1 (22)申请日 2021.11.30 (71)申请人山东云海国创云计算装备产业创新