用于确定介电常数的测量设备.pdfVIP

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2023-05-04 发布于北京
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用于确定介电常数的测量设备.pdf

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本发明涉及一种用于确定介质(2)的介电常数(DK)的测量设备(1)。测量设备(1)基于两个波导(11，12)，每个波导在一端具有信号端口(113，122)。在这种情况下，波导(11，12)被布置成使得信号端口(113，122)彼此相对。在它们之间形成用于介质(2)的样本空间，使得被输入耦合到第一波导(11)中的高频信号(SHF)在通过介质(2)之后经由第二信号门(122)被传输到第二波导(12)中。由于高频信号(SHF)的透射分量(THF)和反射分量(RHF)强烈地依赖于介电常数(DK)，因此取

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114222914 A (43)申请公布日 2022.03.22 (21)申请号 202080057022.5 (74)专利代理机构中原信达知识产权代理有限