集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf

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本申请涉及一种集成电路质量评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取集成电路产品质量的质量影响要素集，其中，质量影响要素集包括n个级联的质量影响要素，且第i+1级质量影响要素为第i级质量影响要素的影响因子，1≤i≤n，且n为大于等于2的正整数；并根据质量影响要素集构建质量评价指标体系；进而根据质量评价指标体系对集成电路的产品质量进行评价。通过本方法增加了每级质量评价要素的全面性及关联性，使得集成电路的质量评价体系更加全面和具体，增加了集成电路质量评价体系的准确度。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114331161 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111659736.6 (22)申请日 2021.12.30 (71)申请人中国