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本发明公开了一种基于人在回路中抽样迭代的芯片缺陷检测方法,该方法首先采集相机拍摄得到芯片RGB图像,再根据有无缺陷进行标注,若有缺陷,识别出缺陷位置,按缺陷位置分为10类并按序号0~9进行标注。在初始模型训练阶段,使用特征提取深度网络对输入的图片进行特征提取,再使用四层卷积神经网络进行分类,将最大概率的索引数作为缺陷检测的分类结果。再对陆续从工厂获取的多批次的未标注数据进行缺陷检测,对每批次中最大概率小于设定阈值的图片进行存储,再随机抽取10%的样本数据,传递给人类专家进行人工标注后,使用强化学
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114359163 A
(43)申请公布日 2022.04.15
(21)申请号 202111509736.8 G06N 3/08 (2006.01)
(22)申请日 20
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