一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备.pdfVIP

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2023-05-06 发布于四川
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一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备.pdf

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一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备，所述拉曼芯片在紫外可见平行光束中检测消光(Extinction)吸收光谱SPR主峰高度HSPR，采用HSPR～HRs定标方法，用定标样品的拉曼光谱中定标峰的高度HRS间接表征所述拉曼芯片的灵敏度质量；HSPR～HRS定标曲线，需检测至少5种不同灵敏度的HSPR值之后，相继检测定标样品如R6g‑10‑6M/L的拉曼光谱中的定标峰高HRS，创建HSPR～HRS定标曲线，根据所述拉曼芯片质检达标规范制定质控限，实施所述拉曼芯片定标无损质检。无损质检过

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114324292 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111636182.8 (22)申请日 2021.12.28 (71)申请人大连