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本发明公开一种半色调位图激光标记的方法,该方法包括以下步骤:步骤S1,获取待处理的原始位图;步骤S2,对所述原始位图进行半色调处理,获得半色调位图;步骤S3,识别所述半色调位图的像素点,根据所述像素点调试激光参数,并控制激光器在待打标样本上打标;步骤S4,在接收到打标参数符合打标需求的指令后,获取当前激光参数;步骤S5,对所述半色调位图的像素点疏密程度进行调整;步骤S6,控制激光器以所述当前激光参数发出激光将所述半色调位图标记于待加工材料。本发明技术方案通过调整点在位图上分布的疏密程度从而来实现
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114309961 A
(43)申请公布日 2022.04.12
(21)申请号 202111515544.8
(22)申请日 2021.12.10
(71)申请人 深圳泰德激光技术股份有限公司
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