大容量闪存芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

下载本文档

8
0
约1.69万字
约 15页
2023-05-06 发布于北京
举报
版权申诉

大容量闪存芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

1、本文档共15页，其中可免费阅读14页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种大容量闪存芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，测试方法包括以下步骤：获取全片测试命令；根据闪存芯片中的灵敏放大器的数量及位置信息将闪存芯片的存储阵列划分为多个独立测试区域；根据全片测试命令生成分别对应于每个独立测试区域的独立测试命令；分别根据独立测试命令对对应的独立测试区域进行独立测试；获取所有独立测试的独立测试结果，并根据所有独立测试结果生成闪存芯片的测试结果；该测试方法对应生成独立测试命令以使不同独立测试区域能进行独立测试，从而使得闪存芯片

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114333976 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111671091.8 (22)申请日 2021.12.31 (71)申请人成都博尔微晶科技有限公司