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本发明涉及一种氧化物半导体双极型晶体管及其制造方法,所述晶体管包括:基底;集电极,位于所述基底上;n型集电区,形成于所述集电极之上;p型基区,形成于所述n型集电区之上;n型发射区,形成于所述p型基区之上;基极,形成于所述p型基区之上靠近边缘位置;发射极,位于所述n型发射区上。本发明还提供了一种半导体双极型晶体管的制备方法,所有材料制备均可通过磁控溅射实现,操作简单,工艺成本较低。在沉积氧化物半导体薄膜时,通过选择合适的磁控溅射工艺过程中氩气与氧气的通气比例,以及退火环境和氛围,成功调整了薄膜中电
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114361253 A
(43)申请公布日 2022.04.15
(21)申请号 202111638905.8 H01L 21/34 (2006.01)
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