测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置.pdfVIP

下载本文档

2
0
约1.05万字
约 10页
2023-05-06 发布于北京
举报
版权申诉

测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置.pdf

1、本文档共10页，其中可免费阅读9页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114325503 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111591931.X (22)申请日 2021.12.23 (71)申请人深圳市敦实电子有限公司