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本发明涉及一种半导体结构、半导体器件及其制备方法。半导体结构的制备方法包括:提供衬底;于衬底内形成初始凹槽,初始凹槽内具有尖锐拐角;对初始凹槽进行平滑处理,以去除尖锐拐角,得到具有光滑内壁的沟槽。在上述半导体结构的制备方法中,通过将初始凹槽中的尖锐拐角进行平滑处理,可以去除所有尖锐拐角,形成具有光滑内壁的沟槽,从而可以防止电场线在尖锐拐角处集中,避免出现局部电场强度过高从而击穿介电层的情况,提高半导体结构的可靠性。并且,与尖锐拐角相比,光滑的沟槽内壁对电流通路具有明显的扩展作用,降低了导通电阻。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114334621 A
(43)申请公布日 2022.04.12
(21)申请号 202210004678.1
(22)申请日 2022.01.04
(71)申请人 广东
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