一种基于X射线的GIL金属颗粒缺陷的定位方法.pdfVIP

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2023-05-07 发布于北京
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一种基于X射线的GIL金属颗粒缺陷的定位方法.pdf

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本发明公开了一种基于X射线的GIL金属颗粒缺陷的定位方法，包括X射线机，X射线准直器、含金属颗粒的GIL线路，50Ω同轴电缆，变压器，检测阻抗和局部放电检测仪；该方法具体为：X射线机发出X射线经准直器准直后照射至GIL底部，对GIL导体施加高压，外壳接地，采用脉冲电流法检测局部放电；通过步进电机、固定支架和轮子带动整套照射装置移动，照射GIL的不同位置；观察局部放电强度的变化，当X射线直射金属颗粒缺陷时局部放电的强度最大，达到对金属颗粒缺陷定位的目的；本发明提出的方法具有定位精度高、操作简单、适

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114371366 A (43)申请公布日 2022.04.19 (21)申请号 202210035803.5 (22)申请日 2022.01.13 (71)申请人华北电力大学地址