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2023-05-07 发布于北京
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本发明属于芯片或元器件测试技术领域，公开了一种测试针。该测试针包括测试针体、套接件和弹性件，测试针体包括相对设置的接触端和连接端，接触端用于与测试点接触，若干个测试针体平行设置；套接件的一端滑动套设于连接端，套接件的另一端用于与线路板的第一表面及线路板的连接孔的孔壁接触；弹性件的一端与连接端连接，弹性件的另一端与套接件连接，弹性件被配置为能提供给测试针体推力。本发明提供的测试针，通过设置套接件，套接件与线路板的第一表面及线路板的连接孔的孔壁接触，增大了测试针与线路板的接触面积，进一步增大了测试针

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114384285 A (43)申请公布日 2022.04.22 (21)申请号 202210074083.3 (22)申请日 2022.01.21 (66)本国优先权数据 2021116