一种集成式内存老化测试装置.pdfVIP

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2023-05-08 发布于北京
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一种集成式内存老化测试装置.pdf

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本发明公开一种集成式内存老化测试装置，测试板卡设置用于模拟整机工作条件的辅助元器件，测试板卡设置至少两组规格不同的内存插座，可以匹配至少两种不同规格的内存条，每组内存插座能够插装若干块相应规格的内存条，每组可以同时对多块内存条提供测试；测试板卡设置老化罩，壳体状的老化罩能够环绕罩设在内存插座的外周，为待测内存条提供制冷和/或制热环境，通过老化罩对模拟工作状态的内存条施加不同的温度，加速内存条的老化，加速老化测试的进程。本发明针对内存条老化测试设计，可以同时为不同规格的内存条同时测试，利用老化罩施

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114420193 A (43)申请公布日 2022.04.29 (21)申请号 202111594265.5 (22)申请日 2021.12.23 (71)申请人苏州浪潮智能科技有限公司