智能卡测试设备以及方法.pdfVIP

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2023-05-08 发布于北京
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智能卡测试设备以及方法.pdf

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本发明涉及一种智能卡测试设备，包括用于安置待测卡的待测仓、用于搁置待测卡的测试台、用于测试待测卡的读卡器读头以及用于将待测仓中的待测卡送至测试台上并与读卡器读头对接的驱动机构，待测卡设于测试台的一侧。还提供一种智能卡测试方法，包括S1‑S4四个步骤。本发明通过待测仓、测试台、读卡器读头以及驱动机构的配合，可以迅速地完成智能卡的检测，实现了多张待测卡的测试，极大地提高了测试效率和便携性，另外全自动化的测试设备可以实现24小时不间断执行测试。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114414912 A (43)申请公布日 2022.04.29 (21)申请号 202111565685.0 (22)申请日 2021.12.20 (71)申请人武汉天喻信息产业股份有限公司