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一种套刻量测系统矫正方法,包括:将晶圆置于初始位置;获取当前套刻偏差反映在晶圆层面的旋转量;计算N个信号点当前的统计套刻旋转偏差;重复进行沿光轴方向移动晶圆的步骤,并在移动晶圆后,获取当前套刻偏差反映在晶圆层面的旋转量并计算N个信号点当前的统计套刻旋转偏差,直至所述晶圆移动范围达到预定移动范围;获取所述统计套刻旋转偏差与所述晶圆移动位置的关系图表,以得到最优移动位置;沿光轴方向移动晶圆至最优移动位置,完成矫正,最优移动位置为统计套刻旋转偏差为0值时对应的晶圆移动位置。矫正方法有助于消除信号点处于
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114428444 A
(43)申请公布日 2022.05.03
(21)申请号 202011185631.7
(22)申请日 2020.10.29
(71)申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限
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