电子设备质量管控方法及装置.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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电子设备质量管控方法及装置.pdf

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本发明涉及设备检测领域，具体涉及一种电子设备质量管控方法及装置，方法包括：对被测设备进行项目检测；在被测设备未测试成功的情况下，则第一预设时间段内，对被测设备进行本项目重复检测；如果未在第一预设时间段内对被测设备进行本项目重复检测，则被测设备为次品；如果对被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数，且被测设备未测试成功，则被测设备为次品；如果对被测设备进行本项目重复检测的次数未超过预设次数，且被测设备测试成功，则被测设备为良品，将被测设备传输至下一检测项目。通过设定时间管控和次数管控，能够有效

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114462879 A (43)申请公布日 2022.05.10 (21)申请号 202210179024.2 (22)申请日 2022.02.25 (71)申请人龙旗电子（惠州）有限公司地址 5