一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质.pdf

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本发明实施例公开一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化领域，能够有效提高芯片验证效率。所述方法包括：监测对被验证芯片的验证操作的操作进度，所述验证操作包括以下至少一项：验证环境初始化操作、测试用例仿真操作；根据所述操作进度，在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点，并记录所述检查点对应的电路仿真状态；根据仿真指令，从所述检查点开始，基于所述电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作。本发明适用于芯片验证中。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114492266 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202111567236.X (22)申请日 2021.12.20 (71)申请人海光信息技术股份有限公司地址 3