一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片.pdfVIP

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2023-05-09 发布于四川
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一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片.pdf

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本发明提供一种测试芯片中外围电路的设计方法，包括：获取测试芯片中器件的器件阵列信息、以及器件中选定的待测器件信息；确定用于摆放外围电路的外围电路区域；基于器件阵列的边缘行或/和边缘列设计外围电路；在外围电路区域，为位于边缘行或/和边缘列中的待测器件配置对应的外围电路单元，通过连接线将待测器件与对应的外围电路单元相连形成外围电路。该技术方案有益效果在于，该方法结合考虑器件阵列和外围电路单元进行协同规划，以优化外围电路的摆放设计，能在不影响外围电路的功能和性能的基础上，提升测试芯片的器件密度。还提供

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114487796 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202111501691.X (22)申请日 2021.12.09 (71)申请人杭州广立微电子股份有限公司地址