使用熔丝的可调整列地址加扰.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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使用熔丝的可调整列地址加扰.pdf

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本标的物涉及使用熔丝的可调整列地址加扰。测试装置可检测存储器阵列的第一列平面中的第一错误及所述存储器阵列的第二列平面中的第二错误。所述测试装置可基于检测到所述第一错误及所述第二错误来识别与所述第一错误相关联的所述第一列平面的第一列地址及所述第二列平面的第二列地址。所述测试装置可对于所述第一列平面确定用于将所述第一列平面的列地址加扰到所述第一列平面的不同列地址的配置。在一些情况下，所述测试装置可执行与所述第一列平面相关联的熔丝的熔丝熔断以实施所述经确定配置。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114464243 A (43)申请公布日 2022.05.10 (21)申请号 202210291615.9 (51)Int.Cl.