存储器的检测方法、检测系统、可读介质及电子设备.pdfVIP

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2023-05-10 发布于北京
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存储器的检测方法、检测系统、可读介质及电子设备.pdf

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本公开提供了一种存储器的检测方法、检测系统、计算机可读介质及电子设备，该检测方法包括：向多条所述第一位线连接的存储单元写入第一电压，向多条第二位线连接的存储单元写入第二电压，所述第一位线与所述第二位线交替设置，第一电压大于第二电压；第二电压为零电压或负电压；经过加长的预设暂停时间使所述存储单元进行漏电后，读取所述第一位线或所述第二位线的连接所述存储单元，并判断各所述存储单元的读取结果是否等于其写入的所述第一电压或所述第二电压；若所述存储单元的读取结果不等于其写入的所述第一电压或所述第二电压，则判

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114512174 A (43)申请公布日 2022.05.17 (21)申请号 202210171942.0 (22)申请日 2022.02.24 (71)申请人长鑫存储技术有限公司地址 230