芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-10 发布于北京
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芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：在芯片中的多个待验证模块正常工作的情况下，获取各待验证模块的传输日志；其中，传输日志中，包括待验证模块中的至少一个第一主设备的传输命令信息；将各第一主设备替换为芯片验证环境中验证组件的各第二主设备；在芯片验证环境中，控制各第二主设备按照传输日志进行激励驱动，并获取各第二主设备与各待验证模块中对应从设备之间的传输行为信息；基于传输行为信息，确定待验证模块的性能指标，提高了芯片验证速度，且在芯片设计的早期阶段即可准确的评估芯片的性能

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114528792 A (43)申请公布日 2022.05.24 (21)申请号 202210152377.3 (22)申请日 2022.02.18 (71)申请人杭州爱芯元智科技有限公司地址 3