芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法.pdfVIP

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2023-05-10 发布于北京
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芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法.pdf

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本申请提出一种芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法，其中，芯片测试系统包括：芯片和测试机，其中，芯片包括控制器、引脚、数据选择器和测试寄存器；控制器，用于接收测试机发送的模式切换指令，并根据模式切换指令控制数据选择器切换至测试模式；数据选择器，用于在数据选择器切换至测试模式时，控制数据选择器的第一输入端和数据选择器的输出端导通；控制器，还用于接收测试机发送的测试指令，并根据测试指令控制测试寄存器输出测试值；测试机，用于采集引脚的第二端输出的电压，并根据电压和测试指令，生成引脚的第一端的测试结果。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518524 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202210102731.1 (22)申请日 2022.01.27 (71)申请人爱芯元智半导体（上海）有限公司地址