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用于植物根际污染物印迹测定的装置及植物根际污染物印迹测定方法,涉及一种用于植物根际物质印迹测定的装置及植物根际物质印迹测定方法。本发明装置包括无盖栽培室和活动式支架,无盖栽培室为长方体、下底面有孔、正前面与一侧面铰接、无上顶面;活动式支架包括固定底架和栽培室支架,固定底架与栽培室支架通过固定连接件连接;无盖栽培室放置于栽培室支架上,无盖栽培室不垂直于水平面。本发明方法:一、无盖栽培室填充土种苗;二、放置栽培室支架上苗种;三、饱和膜制备;四、饱和膜覆植物根际处;五、取出饱和膜,紫外透射成像;六、图
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114518347 A
(43)申请公布日 2022.05.20
(21)申请号 202210110609.9
(22)申请日 2022.01.29
(71)申请人 王洪瑞
地址 150001 黑龙江
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