一种用于智能芯片的检测装置及检测方法.pdfVIP

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2023-05-11 发布于北京
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一种用于智能芯片的检测装置及检测方法.pdf

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本发明属于智能芯片检测装置技术领域，具体公开了一种用于智能芯片的检测装置，包括工作台，所述工作台的上端靠近中心位置固定连接有底座，所述工作台与底座的内部设置有夹持机构，所述夹持机构的上侧安装有测量机构，所述工作台的内部设置有传动机构，所述夹持机构包括开设在工作台内部的两组第一安装槽，所述第一安装槽的内部活动连接有第一螺纹杆，所述工作台的前端靠近第一螺纹杆的位置固定连接有第一电机。本发明通过夹持机构、测量机构、传动机构之间的配合使用，可以对芯片进行定位夹持与长宽度的测量，而通过传统机构检测电路效率

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114543621 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210239913.3 (22)申请日 2022.03.12 (71)申请人袁小兰地址 730000 甘肃