一种测试蓝相I在电场中的三维晶格常数的方法.pdfVIP

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2023-05-11 发布于北京
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一种测试蓝相I在电场中的三维晶格常数的方法.pdf

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本发明提出一种测试蓝相I在电场中的三维晶格常数的方法，该方法基于科塞尔衍射和布拉格反射光谱两种光学表征手段，利用孪晶结构的特殊对称性，通过对蓝相I的孪晶结构分别在零场和电场中进行原位测试，可计算得出蓝相I在不同电场强度下的三维晶格常数。模拟实验结果表明，通过该方法测试所得的蓝相I三维晶格常数与实际数据吻合度较高。该方法适用于在零场和低电场强度下对蓝相I的三维晶格常数进行实时测试，具有操作简便、测试参数少和精度高(±10nm)等优点，对于开发高性能的蓝相电光器件具有实际参考价值。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114544517 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210264115.6 (22)申请日 2022.03.17 (71)申请人北京航空航天大学地址 10019