一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置.pdfVIP

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2023-05-12 发布于北京
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一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置.pdf

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一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置，测量方法基于扣除杂散辐射测量原理推导和工程应用相结合，保证了测量方法的可行性；装置包括光学头部，光学头部包括反射镜组件、分光系统、光学系统和热电堆探测器，分光系统、光学系统和热电堆探测器依次沿光路设置，反射镜组件移动设置在分光系统远离光学系统的一侧，反射镜组件包括镜面朝向热电堆探测器的镀金反射镜和温度传感器，镀金反射镜在遮挡光路和离开光路两个状态间切换。本发明保证高精度的辐射测量；快速切换两种测量状态；拓展了装置的适用性；在不改变像的视场角的前提下，

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114593822 A (43)申请公布日 2022.06.07 (21)申请号 202111255200.8 (22)申请日 2021.10.27 (71)申请人中国科学院合肥物质科学研究院地址