芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备.pdfVIP

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2023-05-12 发布于北京
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芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备.pdf

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本发明公开了芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备，涉及电力载波芯片加工技术领域，包括检测盒体、运载组件和检测组件，所述检测盒体的上下两侧开设有转位槽，且转位槽的内侧中端连接有电控转轴，所述运载组件安置于电控转轴的外端。本发明第一摄像头可对芯片的上表面进行外观检测，第二摄像头可对对芯片的下表面以及引脚进行检测，从而能实现设备在检测流程内对芯片的整体外观进行检测，此外摄像头本身为设备内的纠偏装置，这能免去额外提供部件造成设备制造成本的提升，此外通过在检测流程对芯片的外观进行检测，这能免去额

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114594366 A (43)申请公布日 2022.06.07 (21)申请号 202210177924.3 (22)申请日 2022.02.24 (71)申请人深圳市凯威达电子有限公司地址 5