具有差分环回测试的内存控制器物理接口.pdfVIP

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2023-05-12 发布于四川
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具有差分环回测试的内存控制器物理接口.pdf

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本发明提供了用于内存控制器的环回测试技术的系统、装置和方法。内存控制器其可以包括环回测试电路，其可以包括：第一多路复用器，其具有耦合到输入缓冲器的输出的第一输入和耦合到来自内存控制器的第一数据输出的第二输入；反相器，其耦合到输入缓冲器的输出；以及第二多路复用器，其具有耦合到反相器的输出的第一输入和耦合到来自内存控制器的第二数据输出的第二输入。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114595172 A (43)申请公布日 2022.06.07 (21)申请号 202210239406.X G06F 11/22 (2006.01) (22)申请日 2022.03.