缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质.pdfVIP

下载本文档

0
0
约2.33万字
约 22页
2023-05-12 发布于北京
举报
版权申诉

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质.pdf

1、本文档共22页，其中可免费阅读21页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本申请适用于工业自动化技术领域，提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：获取待检测图像；将待检测图像输入预存的注意力生成对抗网络进行处理，输出目标图像；确定目标图像中的缺陷区域。由于注意力生成对抗网络中引入了注意力机制，使得受到注意力机制关注前景和背景图像有了明显的区分，利用注意力生成对抗网络对待检测图像进行处理，获得的目标图像可以是对前景图像增强、修改、或去除的图像，利用这样的目标图像检测缺陷区域，对待检测图像中被检测对象的缺陷实现自动的检测，可以省去手动标注的环

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114596242 A (43)申请公布日 2022.06.07 (21)申请号 202011395618.4 (22)申请日 2020.12.03 (71)申请人 TCL科技集团股份