太赫兹频谱单发测量装置和应用.pdfVIP

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本发明提供了一种太赫兹频谱单发测量装置,包括多通道滤波器、成像系统和探测器,所述多通道滤波器为薄片状,由若干滤波通道构成,每个滤波通道分别对应不同太赫兹频率,所述成像系统无色散,可将通过多通道滤波器的太赫兹成像到探测器上,将所述探测器为面阵,可探测太赫兹的二维强度分布。使用时,使待测太赫兹光束垂直于多通道滤波器入射,透过多通道滤波器,经过成像系统,到达探测器上,统计通过每个滤波通道后的太赫兹强度值,分别除以事先标定的通道滤波效率,得到每个滤波通道所对应太赫兹频率的强度值,进而得到所测太赫兹的频谱

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114646389 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202011501359.9 (22)申请日 2020.12.18 (71)申请人 中国科学院物理研究所 地址 100

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