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本发明公开的一种天线平面近场测试方法,具有高速、可全天候工作、无需相位测量。本发明通过下述技术方案实现:分别沿x轴和y轴按照dx和dy的间隔进行M列和N行双极化探头布置,信号源发出信号,平面布置的双极化探头全电子化采样测试被测天线,将采样信号分别送到移相器中,移相器根据指向角度按照傅里叶变换的频移特性将每个双极化探头收到的信号送入移相器进行移相,经过移相器的信号送入H极化合成器和V极化合成器,分别合成H极化信号和V极化信号,将合成后的H极化信号和V极化信号送入接收机,在接收机收到两个极化的信号后
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113252999 A
(43)申请公布日 2021.08.13
(21)申请号 202110483020.9
(22)申请日 2021.04.30
(71)申请人 西南电子技术研究所(中国电子科
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