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一种自动化集成电路整机测试控制方法.pdf

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本发明公开了一种自动化集成电路整机测试控制方法,测试控制步骤包括如下:S1,外观测试:将集成电路整机输送至各个检测工位,经过第一道检测工位检测集成电路整机的外观,合格流入下一道工序,不合格直接流入检修工位;S2,性能测试:第二道检测工位为性能测试,将多根线路检测插头连接集成电路整机的侧端,通电检测其性能,合格流入下一道工序,不合格直接流入检修工位;S3,静电测试:第三道检测工位为静电测试;S4,老化测试:第四道检测工位为老化测试;S5,温度测试:第五道检测为耐高低温测试;S6,振动测试:最后一道

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114659548 A (43)申请公布日 2022.06.24 (21)申请号 202011528224.1 (22)申请日 2020.12.22 (71)申请人 徐州智方联电子科技有限公司 地址

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