存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-13 发布于四川
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存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质.pdf

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本发明提供一种存储芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及半导体技术领域。存储芯片的测试方法包括：在待测存储芯片的存储单元中写入测试数据；从存储单元中读取存储数据；根据测试数据和存储数据，生成待测存储芯片的测试结果；其中，待测存储芯片的当前写入选通脉冲宽度小于待测存储芯片的标准写入选通脉冲宽度，和/或，待测存储芯片的当前读取选通脉冲宽度小于待测存储芯片的标准读取选通脉冲宽度。本发明通过制造不利于准确写入测试数据或读取存储数据的条件，从而精准检测存储芯片是否存在数据写入或读取异常的情况，提升产品良率

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114639434 B (45)授权公告日 2022.08.26 (21)申请号 202210495827.9 (51)Int.Cl.