一种基于机器学习的集成电路ATE自动复测系统及方法.pdfVIP

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2023-05-14 发布于四川
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一种基于机器学习的集成电路ATE自动复测系统及方法.pdf

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本发明公开了一种基于机器学习的集成电路ATE自动复测系统及方法，包括测试程序控制器、复测监控程序控制器、预测模型训练控制器，首先根据复测信息对被测器件集进行测试，然后根据测试结果数据，调用预测模型训练控制器生成的预测模型判断被测器件集是否需要复测，若需复测，则将复测信息发送给测试程序控制器；所述预测模型训练控制器用于根据复测数据建立训练数据队列，同时用于根据机器学习方法，生成预测模型，供复测监控程序控制器调用。本发明不仅能够避免芯片损伤，而且提高了芯片良率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114660443 A (43)申请公布日 2022.06.24 (21)申请号 202210567431.0 (22)申请日 2022.05.24 (71)申请人南京宏泰半导体科技有限公司地址