目标测量方法、装置、计算机设备及介质.pdfVIP

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2023-05-16 发布于北京
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目标测量方法、装置、计算机设备及介质.pdf

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本发明实施例公开一种目标测量方法及装置、计算机设备及介质。在一具体实施方式中，该目标测量方法包括：对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像，其中，所述二值化图像包含背景区域和目标区域，所述目标区域延伸至所述二值化图像的至少两个图像边界处；对所述二值化图像进行数字信号处理得到所述目标区域的轮廓数据，并根据所述轮廓数据和所述二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114757986 A (43)申请公布日 2022.07.15 (21)申请号 202210309682.9 G06N 3/08 (2006.01) (22)申请日 2022.03.2