一种IGBT模块测试平台.pdfVIP

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2023-05-16 发布于北京
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一种IGBT模块测试平台.pdf

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本发明涉及IGBT模块测试技术领域，具体为一种IGBT模块测试平台，通过治具组件将IGBT模块固定于振动机构，通过振动机构模拟IGBT模块工作时的振动环境，经过设定时长的振动后，通过取料夹具从振动机构处的治具组件将IGBT模块取出，然后通过移动机构运送至测试机构处的治具组件进行固定，测试机构对治具组件处的IGBT模块进行检测，振动机构能有效模拟IGBT模块的振动工作环境，并能通过测试机构的测试仪对经历过振动的IGBT模块进行检测，测试结果真实、可靠。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114754958 A (43)申请公布日 2022.07.15 (21)申请号 202210436296.6 (22)申请日 2022.04.25 (71)申请人深圳市芯愚公半导体有限公司地址