缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质.pdfVIP

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2023-05-16 发布于北京
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缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质.pdf

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一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：获取利用正常训练样本训练自编码器及自回归网络时得到的训练权重；载入所述训练权重至所述自编码器及所述自回归网络中以通过载入所述训练权重的所述自编码器对测试样本进行编码得到测试编码特征；将所述测试编码特征输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出测试结果，所述测试结果包括所述测试样本存在缺陷及所述测试样本不存在缺陷中的一种。本案还提供一种缺陷检测装置、一种电子装置及一种计算机可读存储介质，可避免缺陷的确定的误差。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114764764 A (43)申请公布日 2022.07.19 (21)申请号 202011615846.8 G06K 9/62 (2022.01)