光栅尺及其测量精度的提升方法、装置、介质和设备.pdfVIP

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2023-05-16 发布于四川
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光栅尺及其测量精度的提升方法、装置、介质和设备.pdf

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本公开涉及光栅尺及其测量精度的提升方法、装置、介质和设备，该方法包括：获取与待测量关联的输入信号；基于输入信号，生成跟随信号；其中，跟随信号的相位与输入信号的相位保持一致；基于跟随信号，确定待测量。根据本公开提供的技术方案，能够在获取与待测量关联的输入信号之后，生成与其相位保持一致的跟随信号，进而确定待测量，由于跟随信号的生成无需经过电子电路、光电器件等结构，避免了由此引入噪声的问题，从而有利于提升测量精度。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114754680 A (43)申请公布日 2022.07.15 (21)申请号 202210664035.X (22)申请日 2022.06.14 (71)申请人探维科技（北京）有限公司地址 1