测试设备及其测试方法.pdfVIP

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2023-05-17 发布于北京
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测试设备及其测试方法.pdf

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本发明实施例公开了一种测试设备，包括机架、中转盘、中转模组和吸持有测试载盘的翻转模组，所述中转模组和所述翻转模组设于所述机架，所述中转盘置于所述机架上，所述机架具有第一区域和第二区域；当所述中转盘处于所述第一区域时，所述中转模组移送所述中转盘至所述第二区域，所述翻转模组吸持所述中转盘，压合所述中转盘与所述测试载盘，翻转所述中转盘与所述测试载盘，使所述中转盘承载的多个未测试芯片全部转移至所述测试载盘。让中转盘的多个未测试芯片转移到测试载盘，此时芯片的引脚是朝上，实现多个芯片一次性自动翻转，提高测试

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114803428 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210475816.4 (22)申请日 2022.04.29 (71)申请人深圳格芯集成电路装