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本发明公开了一种热敏电阻电压效应测试电路及系统,属于电子电路技术领域。电路包括:脉冲电压源、采样电阻、两个IGBT、单片机及峰值电压表;所述脉冲电压源、待测PTCR陶瓷电阻及采样电阻形成串联回路;所述待测PTCR陶瓷电阻和采样电阻的一端分别与两个IGBT的G极相连,另一端分别与峰值电压表的负极相连;所述峰值电压表的正极分别与两个IGBT的C极相连;所述单片机分别与两个IGBT的E极相连,用于控制两个IGBT的导通和断开。测试系统包括单片机、温控表、电炉、计算机及上述所述的电路。本发明能够提升热敏
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114812869 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202210236943.9
(22)申请日 2022.03.11
(71)申请人 华中科技大学
地址 430074
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