一种射频滤波器高精度测试装置和测试补偿方法.pdfVIP

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2023-05-17 发布于北京
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一种射频滤波器高精度测试装置和测试补偿方法.pdf

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本发明提供的一种射频滤波器高精度测试装置和试补偿方法，通过产品托盘上设置校准基板，再结合在产品托盘上建立坐标系，找到校准基板和薄膜探针卡，使薄膜探针卡能够与校准基板进行接触；通过在校准基板上建立的坐标系，和预存了每个校准触点地址信息的校准基板配置文件，找到校准基板上的每个校准触点，确保薄膜探针卡上的薄膜探针能够准确的与指定的校准触点进行接触，完成校准测试；本发明中测试方法中通过不同功能的校准基板涵盖了测试环境中发生的各种情况，确保能够做到完整和全面的校准和补偿，进而确保测试结果的准确性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114814527 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210315521.0 (22)申请日 2022.03.29 (71)申请人全讯射频科技(无锡)有限公司地址