一种数据校验方法、系统及电子装置、可读存储介质.pdfVIP

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2023-05-17 发布于北京
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一种数据校验方法、系统及电子装置、可读存储介质.pdf

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本申请提出了一种数据校验方法，包括：获取待处理文件，为待处理文件配置至少一校验规则，其中每一校验规则设有相应的优先级和预设样式；从待处理文件中提取包括至少一待校验数据的待校验数据集；按照每一校验规则的优先级依次选取校验规则，根据校验规则遍历校验待校验数据集确定不合格待校验数据，按照校验规则的预设样式校正待处理文件中每一不合格待校验数据。该方法通过将每个校验规则独立化，根据需要为待处理文件指定校验规则的校验顺序，实现了待处理文件需要使用多个校验规则进行校验时，自动查询并修改不合格的待校验数据。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114817218 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210437064.2 (22)申请日 2022.04.20 (71)申请人城云科技（中国）有限公司地址 3