一种利用CdTe量子点检测氟虫腈的荧光免疫分析方法.pdfVIP

一种利用CdTe量子点检测氟虫腈的荧光免疫分析方法.pdf

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本发明涉及免疫检测技术领域,具体涉及一种利用CdTe量子点检测氟虫腈的荧光免疫分析方法。本发明提供的一种CdTe量子点标记氟虫腈抗原的方法,包括如下步骤:向氟虫腈抗原溶液中加入EDC和NHS,静置,然后加入CdTe量子点,放置反应;所述CdTe量子点的粒径范围为5‑8nm;经过大量的摸索实验发现,当CdTe量子点的粒径在5‑8nm时,氟虫腈抗原能够较好的覆盖在CdTe量子点的表面,填补了CdTe量子点的表面缺陷,荧光强度出现明显的增强。该CdTe量子点‑氟虫腈抗原的偶合物能够为荧光免疫分析方法提

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114858766 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210374878.6 (51)Int.Cl.

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