芯片测试用探针调节支架.pdfVIP

下载本文档

0
0
约9.31千字
约 9页
2023-05-19 发布于北京
举报
版权申诉

芯片测试用探针调节支架.pdf

1、本文档共9页，其中可免费阅读8页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开一种芯片测试用探针调节支架，其悬板中部上方安装有一铰接轴，垂直于悬板长度方向设置的铰接轴包括主体部和位于主体部两端的凸缘部，铰接轴的主体部上方两侧设置有平行安装于本体上的第一销轴、第二销轴，探针座一端的上表面开有一通孔，倾斜设置的通孔的上端位于通孔的下端与探针座另一端之间，一簧片的连接部与探针座另一端的上表面固定连接，延伸至通孔上方的簧片的主体部上开设有一位于其连接部与通孔之间的安装通孔，第一轴承、第三轴承位于铰接轴的一个凸缘部与本体之间，第二轴承、第四轴承位于铰接轴的另一个凸缘部与本

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114878873 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210574584.8 (22)申请日 2022.05.24 (71)申请人苏州联讯仪器有限公司地址 215